氮离子束等诱变机理研究(一)
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Study on Mutation Mechanisms of Nitrogen Ion Beam(I)
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    选用小麦品种(系)、远缘杂种和四倍体黑麦等供试样品,经N+束、C。60γ-ray、2660A紫外激光等七种不同诱变源各高低两种剂量处理后,分析不同诱变源与小麦试样间的互作效应,据电子顺磁共振(EPR)波谱特征和发芽率的差异,首先发现N+与γ-ray一样对发芽率有明显的影响,而N+处理的所有样品,其EPR谱信号都较强,超过中子、紫外激光甚至γ-ray处理的结果。这可能表明低能N+束引起物体内自由基信号强度增大,是诱导植物内部损伤、分子集团重组以致构成遗传变异的基础。

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